超低頻高壓發(fā)生器通用技術(shù)要求試驗方法
電力設備專(zhuān)用測試儀器通用技術(shù)條件,超低頻高壓發(fā)生器技術(shù)要求試驗方法,安全絕緣性能試驗。
1、絕緣電阻,用500V兆歐表測量輸入電源接線(xiàn)柱與超低頻高壓發(fā)生器的任何可觸及的金屬部件之間的絕緣電阻,應滿(mǎn)足規程的要求。
2、耐壓試驗,輸入電源接線(xiàn)柱與超低頻高壓發(fā)生器的任何可觸及的金屬部件之間施加工頻電壓2.0kV,耐受lmin,應無(wú)明顯放電現象。
3、倍額定輸出電壓試驗,超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器),零起升壓,使輸出電壓逐步上升至1.1倍額定值,保持10min。超低頻高壓發(fā)生器高壓各部分應無(wú)明顯放電,過(guò)電壓、過(guò)電流保護裝置不應動(dòng)作。
4、輸出電壓和波形檢驗
1)電壓峰值不穩定度試驗,超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接 50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測量裝置,在60min 內測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0 倍額定值時(shí),分10 次測量輸出電壓峰值。通過(guò)計算,輸出電壓峰值不穩定度應滿(mǎn)足5.4a)的要求。
2) 電壓頻率穩定度試驗,超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測量裝置,在60min 內測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0 倍額定值時(shí),分10 次測量輸出電壓頻率。通過(guò)計算,輸出電壓頻率不穩定度應滿(mǎn)足規程的要求。
3)正弦電壓的波形畸變率試驗,超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測量裝置,測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出正弦電壓的波形畸變率應滿(mǎn)足規程的要求。
4 )余弦方波電壓的極性轉換時(shí)間試驗,超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接電容量為50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測量裝置,測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出余弦方波電壓的極性轉換時(shí)間應滿(mǎn)足規程的要求。
5) 正/負半周周期對稱(chēng)性試驗,超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器),外接綜合誤差小于或等于 1.0%的電壓測量裝置,測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出電壓的正/負半周周期的絕對誤差應滿(mǎn)足規程的要求。
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