介質(zhì)損耗分析法在局部放電檢測中應用
局部放電檢測方法之電測法,局部放電最直接的現象即引起電極間的電荷轉移,從而引起試樣外部電極上的電壓變化。
氣隙中局部放電持續時(shí)間很短,10ns量級;油隙中1us量級。根據Maxwell電磁理論,如此短持續時(shí)間的放電脈沖會(huì )產(chǎn)生高頻的電磁信號向外輻射。
局部放電檢測儀的局部放電電檢測法,即是基于電荷轉移和電磁輻射這兩個(gè)原理。
介質(zhì)損耗分析法(Dielectric loss analysis, DLA)局部放電對絕緣材料的破壞作用與局部放電消耗的能量直接相關(guān),因此對放電消耗功率的測量能夠定性反映出局部放電性質(zhì)。
Tgo能夠反映介質(zhì)損耗, 介質(zhì)損壞將導致tgo增加。因此可以通過(guò)測量tgo值來(lái)反映局部放電能量,從而判斷絕緣材料和結構的性能情況。
介質(zhì)損耗分析法(Dielectric loss analysis,DLA)介質(zhì)損耗分析法特別適用于測量低氣壓中存在的輝光或者亞輝光放電。
輝光放電不產(chǎn)生放電脈沖信號,而亞輝光放電的脈沖上升沿時(shí)間太長(cháng),普通的脈沖電流法檢測裝置中難以檢測出來(lái)。
但這種放電消耗的能量很大,使得tgo很大,故只有采用電橋法檢測tgo才能判斷這種放電的狀態(tài)和帶來(lái)的危害。
介質(zhì)損耗分析法方法只能定性測量局部放電是否發(fā)生,不能檢測局部放電量的大小, 這限制了介質(zhì)損耗分析法方法的運用。
在沒(méi)有局部放電檢測儀或其它局部放電檢測試驗設備的情況下,可以采用介質(zhì)損耗分析法判斷是否存在局部放電,然后再結合局部放電檢測儀檢測局部放電量的大小。
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